薄膜熱電阻是一種重要的溫度檢測元件，廣泛應用于機械、電子、航空、航天、科研等領域。但是，薄膜熱電阻在實際應用中仍存在著一些缺點和局限性。以下是薄膜熱電阻的缺點：

薄膜熱電阻的漂移問題是導致測量降低的重要原因，尤其是在一些高溫環境下，漂移更加明顯。這是由于薄膜熱電阻的溫度系數比較大，而在高溫環境下，其材料的結構會發生變化，從而導致溫度系數發生變化。

雖然薄膜熱電阻的比較高，但是其的穩定性仍然存在問題。這是由于隨著時間的推移，薄膜熱電阻會發生失效，從而導致其降低。

薄膜熱電阻的使用范圍受到一定的限制。例如，在需要測量高溫的場合，由于薄膜熱電阻的材料限制，其測量范圍受到限制，不適合使用于超過其材料能承受的溫度的場合。

薄膜熱電阻的靈敏度比一些其他溫度檢測元件要低，在溫度變化較小的情況下可能無法進行準確的測量。

總之，薄膜熱電阻雖然具有高、響應快、構造簡單等優點，但在實際應用中也存在一些問題和局限性。因此，在選擇溫度檢測元件的時候應該充分考慮其應用環境、測量要求等因素，綜合考慮選擇合適的溫度檢測元件。